Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
Danielle Cristofol : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://in2p3.hal.science/in2p3-00996607
Soumis le : lundi 26 mai 2014-16:19:31
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00996607 , version 1
Citer
M. Barbero. Radiation Damage Tests at 1 Grad Dose on 65 nm CMOS Transistors. Front End Electronics (FEE 2014), May 2014, Chicago, United States. ⟨in2p3-00996607⟩
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