Number of a fragment spectrometry in CID of mass selected ions: a new tool for ion characterization in the MS-MS frame - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Poster De Conférence Année : 2011

Number of a fragment spectrometry in CID of mass selected ions: a new tool for ion characterization in the MS-MS frame

Domaines

Chimie-Physique [physics.chem-ph]

Dominique Girod  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://in2p3.hal.science/in2p3-00781850

Soumis le : lundi 28 janvier 2013-14:52:00

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00781850 , version 1 (28-01-2013)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00781850 , version 1

Citer

K. El Farkh, G. Bruny, V. Buridon, S. Feil, M.M. Harb, et al.. Number of a fragment spectrometry in CID of mass selected ions: a new tool for ion characterization in the MS-MS frame. 59th ASMS Conference on Mass Spectrometry and allied Topics, Jun 2011, Denver, United States. ⟨in2p3-00781850⟩

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