Poster De Conférence
Année : 2010
Christine Hadrossek : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://in2p3.hal.science/in2p3-00771739
Soumis le : mercredi 9 janvier 2013-12:16:54
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00771739 , version 1
Citer
F. Linez, A. Gentils, W. Egger, P. Desgardin, M.-F. Barthe. Influence of ion energy on damage induced in silicon carbide single crystals probed by positron lifetime and Doppler-Broadening spectroscopies. SLOPOS-12 International Workshop on Slow Positron Beam Techniques, Aug 2010, Magnetic Island, Australia. ⟨in2p3-00771739⟩
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