Diagnostiques en un seul tir pour accélérateurs par onde de sillage dans un plasma
Résumé
L'accélération par onde de sillage dans un plasma offre la possibilité d'accélérer des faisceaux d'électrons jusqu'à des énergies de plusieurs centaines de MeV sur une distance d'à peine quelques millimètres. Cependant les fluctuations de tir à tir de ces faisceaux rendent leur caractérisation difficile. Cette contribution présente mes travaux récents pour développer des diagnostiques capables de mesurer l'émittance transverse ou le profil longitudinal d'un faisceau d'électrons en un seul tir.