Article Dans Une Revue
Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials
Année : 1984
Yvette Heyd : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://in2p3.hal.science/in2p3-00019470
Soumis le : jeudi 31 mai 2001-09:06:02
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00019470 , version 1
Citer
R. Stuck, P. Siffert. Secondary ion mass spectrometry (SIMS). Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials, 1984, 8, pp.11-57. ⟨in2p3-00019470⟩
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