Article Dans Une Revue Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials Année : 1984

Secondary ion mass spectrometry (SIMS)

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00019470 , version 1 (31-05-2001)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00019470 , version 1

Citer

R. Stuck, P. Siffert. Secondary ion mass spectrometry (SIMS). Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials, 1984, 8, pp.11-57. ⟨in2p3-00019470⟩
7 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More