Communication Dans Un Congrès
Nuclear Instruments and Methods
Année : 1978
Yvette Heyd : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://in2p3.hal.science/in2p3-00018018
Soumis le : mardi 7 novembre 2000-16:22:13
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00018018 , version 1
Citer
C. Heitz, M. Kwadow, D. Tenorio. Surface analysis by argon ion induced X-ray fluorescence. International Conference on Ion Beam Analysis 3, Jun 1977, Washington, United States. pp.483-488. ⟨in2p3-00018018⟩
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