Communication Dans Un Congrès Nuclear Instruments and Methods Année : 1978

Surface analysis by argon ion induced X-ray fluorescence

M. Kwadow
  • Fonction : Auteur
D. Tenorio
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00018018 , version 1 (07-11-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00018018 , version 1

Citer

C. Heitz, M. Kwadow, D. Tenorio. Surface analysis by argon ion induced X-ray fluorescence. International Conference on Ion Beam Analysis 3, Jun 1977, Washington, United States. pp.483-488. ⟨in2p3-00018018⟩
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