On depth profiling from pixe yields - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Article Dans Une Revue Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry Letters Année : 1987

On depth profiling from pixe yields

P. Regnier
  • Fonction : Auteur
I. Brissaud
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay

Domaines

Physique Nucléaire Expérimentale [nucl-ex]

Suzanne Robert  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://in2p3.hal.science/in2p3-00016658

Soumis le : mercredi 30 août 2000-16:46:17

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00016658 , version 1 (30-08-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00016658 , version 1

Citer

P. Regnier, I. Brissaud. On depth profiling from pixe yields. Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry Letters, 1987, 117, pp.111-120. ⟨in2p3-00016658⟩

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