Thin layers composition and impurities determination using low energy proton X-ray excitation - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods Année : 1974

Thin layers composition and impurities determination using low energy proton X-ray excitation

J.-P. Thomas
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
L. Porte
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
J. Engerran
  • Fonction : Auteur
J-C. Viala
  • Fonction : Auteur
J. Tousset
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire de Lyon

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https://in2p3.hal.science/in2p3-00008268

Soumis le : mercredi 7 février 2001-16:38:06

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00008268 , version 1 (07-02-2001)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00008268 , version 1

Citer

J.-P. Thomas, L. Porte, J. Engerran, J-C. Viala, J. Tousset. Thin layers composition and impurities determination using low energy proton X-ray excitation. Nuclear Instruments and Methods, 1974, 117, pp.579. ⟨in2p3-00008268⟩

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