Thick target x-ray yields and intensity ratios for MeV Br and Kr ion impact and application to the analysis of ottery - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 1986

Thick target x-ray yields and intensity ratios for MeV Br and Kr ion impact and application to the analysis of ottery

D. Tenorio
  • Fonction : Auteur
G. Costa
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques
M. Bordas
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J. Larcher
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G. Lagarde
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C. Heitz
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Institut de Recherches Subatomiques
A. Jaidar
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Soumis le : mardi 3 octobre 2000-08:27:12

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Dates et versions

in2p3-00006387 , version 1 (03-10-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00006387 , version 1

Citer

D. Tenorio, G. Costa, M. Bordas, J. Larcher, G. Lagarde, et al.. Thick target x-ray yields and intensity ratios for MeV Br and Kr ion impact and application to the analysis of ottery. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 1986, 15, pp.612. ⟨in2p3-00006387⟩

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