Article Dans Une Revue
Surface and Interface Analysis
Année : 2013
Sylvie Flores : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://in2p3.hal.science/in2p3-00835579
Soumis le : mercredi 19 juin 2013-10:24:37
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:12
Citer
J.C. Dupuy, G. Prudon, C. Dubois, R. Koegler, S. Akhmadaliev, et al.. Self-consistent isotopic comparative method used to determine dependence of secondary-ion yields on oxygen concentration in Si-O system up to 33 at%. Surface and Interface Analysis, 2013, 45, pp.369-372. ⟨10.1002/sia.5108⟩. ⟨in2p3-00835579⟩
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