Influence of beam conditions and energy for SEE testing - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Influence of beam conditions and energy for SEE testing

V. Ferlet-Cavrois
  • Fonction : Auteur
J.R. Schwank
  • Fonction : Auteur
S. Liu
  • Fonction : Auteur
M. Muschitiello
  • Fonction : Auteur
Th. Beutier
  • Fonction : Auteur
A. Javanainen
A. Hedlund
  • Fonction : Auteur
C. Poivey
  • Fonction : Auteur
A. Zadeh
  • Fonction : Auteur
R. Harboe-Sorensen
  • Fonction : Auteur
G. Santin
  • Fonction : Auteur
B. Nickson
  • Fonction : Auteur
A. Menicucci
  • Fonction : Auteur
C. Binois
  • Fonction : Auteur
D. Peyre
  • Fonction : Auteur
S.K. Hoeffgen
  • Fonction : Auteur
S. Metzger
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D. Schardt
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H. Kettunen
  • Fonction : Auteur
A. Virtanen
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G. Berger
  • Fonction : Auteur
M. Zafrani
  • Fonction : Auteur
P. Truscott
  • Fonction : Auteur
M. Poizat
  • Fonction : Auteur

Résumé

The effects of heavy-ion test conditions and beam energy on device response are investigated. These effects are illustrated with two types of test vehicles; SRAMs and power MOSFETs. In addition, GEANT4 simulations have also been performed to better understand the results.

Dates et versions

in2p3-00695719 , version 1 (09-05-2012)

Identifiants

Citer

V. Ferlet-Cavrois, J.R. Schwank, S. Liu, M. Muschitiello, Th. Beutier, et al.. Influence of beam conditions and energy for SEE testing. 12th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2011, Sevilla, Spain. pp.690-699, ⟨10.1109/RADECS.2011.6131365⟩. ⟨in2p3-00695719⟩
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