Chemical characterization of the superficial layers of deuterium implanted CdTe - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Article Dans Une Revue Journal of Materials Science Letters Année : 1988

Chemical characterization of the superficial layers of deuterium implanted CdTe

L. Svob
  • Fonction : Auteur
D. Ballutaud
  • Fonction : Auteur
M. Hage-Ali
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques

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https://in2p3.hal.science/in2p3-00017506

Soumis le : mercredi 27 septembre 2000-09:51:27

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00017506 , version 1 (27-09-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00017506 , version 1

Citer

L. Svob, D. Ballutaud, M. Hage-Ali. Chemical characterization of the superficial layers of deuterium implanted CdTe. Journal of Materials Science Letters, 1988, 7, pp.949. ⟨in2p3-00017506⟩

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