Article Dans Une Revue
Surface and Interface Analysis
Année : 1990
Yvette Heyd : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://in2p3.hal.science/in2p3-00016159
Soumis le : jeudi 29 juin 2000-08:17:44
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00016159 , version 1
Citer
J.P. Stoquert, E. Fogarassy, R. Stuck, G. Guillaume, P. Siffert, et al.. Analysis of superconducting thin films by ion beam methods. Comparison of nuclear techniques and SIMS. Surface and Interface Analysis, 1990, 15, pp.57. ⟨in2p3-00016159⟩
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