Secondary ion emission under cluster impact at low energies (5-60 KeV), influence of the number of atoms in the projectile - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Communication Dans Un Congrès Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 1994

Secondary ion emission under cluster impact at low energies (5-60 KeV), influence of the number of atoms in the projectile

K. Boussofiane-Baudin
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
G. Bolbach
  • Fonction : Auteur
A. Brunelle
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
S. Della-Negra
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
P. Hakansson
  • Fonction : Auteur
Y. Le Beyec
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay

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https://in2p3.hal.science/in2p3-00015984

Soumis le : lundi 5 juin 2000-15:40:03

Dernière modification le : lundi 23 septembre 2024-09:22:24

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00015984 , version 1 (05-06-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00015984 , version 1

Citer

K. Boussofiane-Baudin, G. Bolbach, A. Brunelle, S. Della-Negra, P. Hakansson, et al.. Secondary ion emission under cluster impact at low energies (5-60 KeV), influence of the number of atoms in the projectile. Conference on Polyatomic Ion Impact on Solids and Related Phenomena, Jun 1993, Saint-Malo, France. pp.160-163. ⟨in2p3-00015984⟩

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