Operational experience with a large detector system using silicon strip detectors with double sided readout
G. Batignani
,
C. Bauer
,
Hanna Becker
,
B. Bloch Devaux
,
J. Boudreau
,
D. Brown
,
F. Bosi
,
L. Bosisio
,
M. Carpinelli
,
J. Carr
(1)
,
P. Cattaneo
,
A. Ciocci
,
P. Coyle
(1)
,
R. Dell'Orso
,
H. Dietl
,
J. Drinkard
(1)
,
E. Focardi
,
F. Forti
,
M. Giorgi
,
T. Hansl Kozanecka
,
D. Hauff
,
P. Holl
,
R. G. Jacobsen
,
E. Lancon
,
J. Labuer
,
A. Litke
,
G. Lutz
,
G. Lutjens
,
E. Mannelli
,
W. Manner
,
T. Mattison
,
M. Mcneil
,
S. Menary
,
L. Moneta
,
H. G. Moser
,
B. Mours
,
R. Ossa
(1)
,
G. Parrini
,
S. Piccinini
,
G. Redlinger
,
D. Rizzi
,
G. Rizzo
,
L. Roos
(1)
,
D. Rousseau
(1)
,
G. Taylor
,
G. Tonelli
,
G. Triggiani
,
A. S. Schwarz
,
P. Schwemling
(1)
,
R. Settles
,
H. Seywerd
,
V. Sharma
,
L. Struder
,
C. Vannini
,
P. G. Verdini
,
J. Walsh
,
G. Walterman
,
S. Walther
,
J. Wear
,
F. Weber
G. Batignani
- Fonction : Auteur
C. Bauer
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Hanna Becker
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B. Bloch Devaux
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J. Boudreau
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D. Brown
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F. Bosi
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L. Bosisio
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M. Carpinelli
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P. Cattaneo
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A. Ciocci
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R. Dell'Orso
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H. Dietl
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E. Focardi
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F. Forti
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M. Giorgi
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T. Hansl Kozanecka
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D. Hauff
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P. Holl
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R. G. Jacobsen
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E. Lancon
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J. Labuer
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W. Manner
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T. Mattison
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M. Mcneil
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S. Menary
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G. Rizzo
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D. Rousseau
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- IdHAL : david-rousseau
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G. Taylor
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G. Tonelli
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G. Triggiani
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A. S. Schwarz
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R. Settles
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H. Seywerd
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V. Sharma
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L. Struder
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C. Vannini
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J. Walsh
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J. Wear
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F. Weber
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Résumé
A large system of silicon strip detectors with double sided readout has been successfully commissioned over the course of the last year at the e/sup +/e/sup -/ collider LEP. The readout of this 73728 channel system is performed with custom designed VLSI charge sensitive amplifier chips (CAMEX64A). An overall point resolution of 12 mu m on both sides has been achieved for the complete system. The most important difficulties during the run were beam losses into the detector, and a chemical agent deposited onto the electronics; however, the damage from these sources was understood and brought under control. This and other results of the 1991 data-taking run are described with special emphasis on the operational experience.