Silicon isotopic tracing with the $^{29}$Si(p, $\gamma$) narrow resonance near 415 keV - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Communication Dans Un Congrès Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 2000

Silicon isotopic tracing with the $^{29}$Si(p, $\gamma$) narrow resonance near 415 keV

I.C. Vickridge
CV
O. Kaitasov
  • Fonction : Auteur
Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse
R.J. Chater
  • Fonction : Auteur
J.A. Kilner
  • Fonction : Auteur

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https://in2p3.hal.science/in2p3-00005570

Soumis le : mardi 11 juillet 2000-09:56:32

Dernière modification le : lundi 23 septembre 2024-09:22:24

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00005570 , version 1 (11-07-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00005570 , version 1

Citer

I.C. Vickridge, O. Kaitasov, R.J. Chater, J.A. Kilner. Silicon isotopic tracing with the $^{29}$Si(p, $\gamma$) narrow resonance near 415 keV. Ion Beam Analysis Accelerators in Applied Research and Technology International Conference on Ion Beam Analysis 14 European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology 6, Jul 1999, Dresden, Germany. pp.441-445. ⟨in2p3-00005570⟩

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