Radiation-induced degradation of polyethersulphone films studied by fluorescent X-ray emission spectroscopy - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 1999

Radiation-induced degradation of polyethersulphone films studied by fluorescent X-ray emission spectroscopy

E.Z. Kurmaev
  • Fonction : Auteur
R.P. Winarski
  • Fonction : Auteur
K. Endo
  • Fonction : Auteur
T. Ida
  • Fonction : Auteur
A. Moewes
  • Fonction : Auteur
D.L. Ederer
  • Fonction : Auteur
S.N. Shamin
  • Fonction : Auteur
V.A. Trofimova
  • Fonction : Auteur
Y.M. Yarmoshenko
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00003145 , version 1 (29-10-1999)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00003145 , version 1

Citer

E.Z. Kurmaev, R.P. Winarski, K. Endo, T. Ida, A. Moewes, et al.. Radiation-induced degradation of polyethersulphone films studied by fluorescent X-ray emission spectroscopy. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 1999, 155, pp.431-439. ⟨in2p3-00003145⟩
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